Выбор оптических интерфейсов и типов оптических волокон

Параметры оптических интерфейсов (точек стыков) соответствуют параметрам оборудования к концу срока его службы при наихудшем сочетании климатических и других условий эксплуатации. Особенности нормирования, контроля и измерения параметров оптических интерфейсов определяются постоянным совершенствованием элементной базы оборудования и требованиями современной концепции контроля и управления.

Типовая структурная схема участка линейного тракта с использованием ОВ (для одного направления передачи) между соседними пунктами приведена на рисунке 8. В любом случае эта схема состоит из последовательного соединения передающего устройства (ПдУ) аппаратуры окончания оптического линейного тракта (АЛТ), станционного оптического кабеля (СОК), линейного оптического кабеля (ЛОК), СОК и приемного устройства (ПрУ) АЛТ.

Рис. 9 - Схема участка линейного тракта ВОСП

АЛТ оборудования СЦИ представляет собой плату оптического стыка в составе аппаратуры синхронного мультиплексора STM-N, на цифровом стыке которой формируется цифровой электрический сигнал STM-N N-гo уровня иерархии СЦИ (N = 1, 4, 16, 64,256), параметры которого определены в Рекомендации МСЭ-Т G.707.Y.1322.

Как видно из рисунка 8, параметры оптического стыка могут измеряться либо непосредственно на разъемах оптических соединениях АЛТ (p1 - уровень мощности оптического излучения на выходе ПдУ, p2 - уровень мощности оптического излучения на выходе ПрУ), либо в точках соединения между СОК и ЛОК на передаче Пд и на приеме Пр. В соответствии с принятыми стандартами нормирования параметров оптического стыка должно осуществляться именно в точках оптического тракта Пд (нормируемый уровень мощности p1H) и Пр (нормируемый уровень мощности p2H).

Прочтите также:

Расчет зеркальной антенны для РЛС обнаружения
Зеркальные антенны (ЗА) - наиболее распространенный тип остронаправленных антенн. Они применяются в различных диапазонах волн, начиная от оптического и кончая коротковолновым. Широкое пр ...

Построение рациональной системы обнаружения с минимальной стоимостью при заданных показателях качества
система обнаружение безотказный В настоящее время посягательства против собственности составляют значительно больше половины всех преступлений. Вероятность стать жертвой ...

Субмикронные полевые транзисторы с барьером Шоттки
Характерные размеры современных полупроводниковых приборов могут быть значительно меньше 1 мкм. В таких условиях длина прибора может стать сравнимой со средней длиной свободного пробега ...

Основные разделы

2018 © Все права защищены! >> www.techeducator.ru